Двумерные нанолисты оксида графена в качестве адгезионного защитного слоя для гибких прозрачных проводящих электродов.

Высокопрозрачный и гибкий двухмерный (2D) материал
Оксид графена (ГО)
Наночастицы привлекли внимание в различных областях применения.
Благодаря наличию большого количества кислородсодержащих функциональных групп, отдельный двумерный нанолист оксида графена является изолирующим, прозрачным и высокодисперсным в экологической среде.
Благодаря своей водоотталкивающей способности, а также гидрофильным свойствам и сильной адгезии к гидрофильной поверхности, этот материал будет использоваться в качестве суперпокрывающего слоя (OCL).
Защитный слой проводящей нанопроволоки на основе индия
Бесплатная прозрачная проводящая пленка (TCF).
Предполагается, что ультратонкий 2D-адгезивный нанолист Go OCL будет прочно закреплен с помощью нанопроволок серебра (AgNWs).
Снижение удельного сопротивления и создание равномерного термоэлектрического слоя обеспечивают комплексное решение проблем высокой запотевания, низкой прозрачности и механической нестабильности традиционных оптических светоотражающих материалов без толстого термоэлектрического слоя.
Наш новый двухмерный изолированный гидрофильный Go OCL успешно обеспечивает широкий спектр применения.
Региональный, гибкий, высокопрозрачный сельскохозяйственный центр TCF на северо-западе США.
Все видеоролики ag Northwest/PET тщательно подготовлены компанией Samsung ElectronicsMechanics (Сувон, Корея).
Хлопья оксида графена, описанные в нашей предыдущей публикации (размер хлопьев ≈ 0).
0,5 мм, однослойный, концентрация > ~ 80%)
Подготовка с использованием усовершенствованного метода Хаммерса.
HS был приобретен у компании Aldrich для проведения коррозионных испытаний.
Для контрольных экспериментов предварительно заданная ПЭТ-подложка отсутствует.
Рассмотрите роль оксида графена в серебряной нанолинии.
ПЭТ-субстрат предварительно
Проведите обработку в течение 10, 20, 30, 40 и 50 секунд 3%-ной плазмой O2/AR, введите 41,9°, 38,9°, 33,3° и 26.
3 градуса WCA соответственно.
При использовании технологии нанесения покрытия Rod, чернила ag northwest наносятся по линии в верхней части гидрофильной ПЭТ-подложки.
Размер листа ПЭТ = 10 × 10 см (формат А4).
Затем палочка Мейера (10) была быстро (в течение 1 секунды)
Сожмите чернила AgNW руками.
С помощью разбавления этанолом на гидрофильной ПЭТ-подложке получают чернила Ag Northwest различной плотности. Полученные чернила...
Затем просушите пленку ag Northwest/PET в печи при температуре 140 °C в течение 4 минут.
Повторная обработка пленки ag Northwest/PET плазмой (3% O/аргон).
60 секунд до 20 секунд.
65 ° WCA и наночастицы GO в водном растворе (
Концентрация = 27,5 × 2005 мг/л) составляла 3-
Количество распылений на гидрофильную пленку ag Northwest/PET составило 9 раз.
6 °C, а затем сушить в печи при 140 °C в течение 4 минут.
Конечное удельное сопротивление каждой мембраны измерялось в 11 различных точках.
Испытание на воздействие окружающей среды для Bell
Для оценки сопротивления была использована банка диаметром 10 см и длиной 25 см.
Вулканизация проводится с использованием двух различных типов пленок.
Пленки Ag Northwest/PET и GO/ag Northwest/PET помещали в стеклянный контейнер с внутренним диаметром 99 мм.
5% сероводородный газ (компания Aldrich)
Затем, с помощью аргона в качестве газа-носителя со скоростью потока 10 SCCM, его подают в реакционную камеру.
Наконец, пленку экспонировали в течение 20 минут в 50 SCCM, разбавленном HS.
После промывки с последующим удалением жидкости была проверена прочность бумаги.
Ионизировать воду и высушить с помощью азота.
Для измерения сопротивления и электрической стабильности пленки Au/GO/ag Northwest/PET каждый образец Au/GO/ag Northwest/PET был подготовлен с использованием верхнего электрода из золота, нанесенного методом горячего испарения. Расстояние между золотыми электродами составляло около 30 мкм, и они были разделены трафаретной маской.
При комнатной температуре удельное сопротивление этих пленок измерялось с помощью системы измерения полупроводниковых характеристик Keithley 4200.
Прочность пленки GO/ag Northwest/PET на изгиб была систематически проанализирована с помощью теста на изгиб (ZBT-200, Z-Tech, Корея).
Для мониторинга изменения сопротивления каждой пленки ag Northwest/PET и GO/ag Northwest/PET, изменяющегося в диапазоне углов изгиба от 0 до 15 градусов, использовались два метода измерения на выходе.
Радиус кривизны изогнутой пленки составляет около 2 мм.
Когда пленка находится в прямом положении, фиксируется ее сопротивление.
В форме каждого образца директор управления образования (
Flying Nova™NanoSEM 200 или jeol jsm-7600F), AFM (
Psia xe-цифровой прибор D3100
100 или Agilent 5500 AFM/SPM), OM (
микроскоп «Олимпус»
Wm003900a S39a или некоторые технические визуальные камеры), и X-
Дифракция лучей (
Ультима IV, Ригаку).
Измерения краевого угла смачивания проводились с использованием микроскопа SEO Phoenix 300 для определения смачивающих свойств поверхности пленки.
Профили оптического пропускания и отражения пленки были зарегистрированы на УФ-спектрометре Varian Cary 5000.
Разветвитель Visible и разветвитель уровня Konica Minolta CM-3600D.
Степень затуманенности пленки (
Определяется как отношение диффузии к общей передаче (ΔT/T).
Измерение с использованием измерителя уровня смога NDH 5000 (
Japan Denshoku Industrial Co., Ltd., Ltd.).
Для оценки цвета пленки 3600D используйте горизонтальный спектрометр Konica Minolta CM-.
Линейные и двумерные спектры Рамана были измерены на приборе Renishaw RM 1000.
Вход осуществляется через рамановский микроскоп, оснащенный модулем 513.
Нм-лазер и рамановский микроскоп Jobin Yvon/Horiba LabRAM Aramis, оснащенный лазером с длиной волны 513 нм (
Программное обеспечение для картирования: LabSpec5), соответственно.
Анализ состояния химических связей на поверхности проводился с использованием прибора VG Microtech ESCA 2000, оснащенного источниками Mg/Al.
Для определения значения каждого образца используется четыре параметра.
Точечный измеритель поверхностного сопротивления (R-CHEK 4-)
Измеритель сопротивления микросхем типа RC2175.
Эти значения получены путем усреднения измерений не менее чем 10 точек на образец.