Двуосная ориентация в пленках LLDPE: сравнение методов инфракрасной спектроскопии, рентгеновских полюсных диаграмм и двулучепреломления.

Полукристаллические олефиновые пленки составляют значительную часть пластмассовой промышленности.
Наиболее распространенным двухсторонним процессом производства пленки является стандартный процесс выдувания пленки.
Для всех видов полиэтилена (ПЭ)
Процесс двойного пузырька (
Для полипропилена и линейного низкого давления
Плотный полиэтилен (llannan)
Двусторонняя ориентация или аренда литой пленки (
Полиэтилен высокой плотности, полиэтилен высокой плотности и полипропилен).
Все эти процессы придают полимеру определенную ориентацию, что улучшает многие свойства полимера [1-5]
Особенно механические, ударные, блокирующие и оптические свойства.
Двусторонняя ориентация обладает дополнительными преимуществами, позволяющими улучшить двустороннюю работу.
Llldpe используется как в выдувной пленке, так и в двухсторонней пленке (двойной пузырьковой).
Благодаря широкому спектру применения.
Кристаллическая структура и различная фазовая ориентация, формирующиеся в процессе пленкообразования, оказывают важное влияние на его характеристики.
Для определения структуры и направления пленки можно использовать различные методы.
Микроскоп дает полное представление о кристаллической форме (
Хлопьевидные, сферические и т. д.), X-
Диаграмма полюсов Рэлея дает представление об ориентации кристаллической фазы.
Инфракрасный спектр (FTIR)
Позволяет определять кристаллические и некристаллические фазы, а также специфические факторы ориентации для кросс- и высокопорядковых конформаций и их комбинаций [1]6]
При условии, что известны углы их переходного момента.
Наконец, средняя полная ориентация представляет собой двойное преломление.
В частном случае ПЭ метод ИК-спектроскопии также позволяет определить направление кристаллической оси [6-18].
Однако точность и конкретная значимость различных факторов ориентации, выявленных с помощью этих методов, установлены, хотя некоторые из предыдущих исследований частично затрагивали эти вопросы и их связь со структурой и природой [7-16].
В недавней статье19]
Мы решили проблему.
Полиэтилен высокой плотности (HDPE)
В ответ были отмечены и обсуждены некоторые различия.
Однако, поскольку в полиэтилене высокой плотности может быть достигнуто более высокое содержание кристаллов и типичная структура (
(Основная структура)
Линейный полиэтилен низкой плотности в отличие от...
Структура случайного слоя пластин)[20]
Эти результаты не могут быть перенесены в llldpe.
Стэн [ему за пятьдесят]7-9]
Проводится сравнение результатов, полученных с помощью инфракрасного и рентгеновского инфракрасного излучения.
Рентгеновская дифракция полиэтилена и теоретическое двойное преломление и сравнение с простым гипотетическим случаем [1]7].
В возрасте 60 лет Рид и Стейн [10]
Проводятся некоторые количественные сравнения по ориентации вдоль одной оси; однако, по оси X-
В той же лаборатории результаты измерений с помощью лазерного излучения не были получены.
Даже с учетом этого факта, были обнаружены значительные различия между результатами ИК-спектроскопии кристаллов.
Ось и ось, полученные из X
Низконаправленный луч
Некоторые из наблюдаемых различий объясняются потенциальными различиями в пленке и экспериментальными ошибками. Деспер [11]
С другой стороны, использование X-
Лучи, двойное преломление и инфракрасные спектры.
Однако при измерении инфракрасного спектра он не использовал метод наклона и, следовательно, не учел влияние толщины на корректное сравнение коэффициента ориентации.
Недавно Киссин [17]
Разработан метод определения коэффициента двусторонней ориентации пленки из полиэтилена высокой плотности со специфической структурой (рядовая структура).
Для определения третьего спектра используются два ИК-спектра без необходимости наклонять пленку [6].
Он сравнил результаты этого метода с результатами широкоугловой рентгеновской дифракции (WAXD) двухсторонне ориентированной пленки из полиэтилена высокой плотности с рядной структурой и обнаружил, что на основе белого-
Двусторонний фактор ориентации.
Однако, когда для определения фактора ориентации используется ориентационный фактор Германа, то ИК- и Х-
Дифракция лучей, которая может быть вызвана компенсацией между двумя независимыми углами, включающими белый свет.
Факторы Спруиэлла (
Эти расчеты не были выполнены в статье). Кришнасвами [18]
Метод Киссина был модифицирован и распространен на пленку из ЛЛПНП, полученную методом выдувания, однако систематического сравнения с результатами инфракрасной дифракции или широкоугловой рентгеновской дифракции не проводилось.
Для уточнения различий, наблюдаемых в вышеупомянутой литературе, а также для отслеживания нашего сравнения инфракрасного спектра и X-
В результате анализа факторов ориентации пленки при воздействии лучей мы провели обширные и систематические исследования различных полиэтиленов, имеющих разные формы и историю применения.
Односторонняя ориентация, двусторонняя ориентация и процесс выдувания пленки из полиэтилена высокой плотности, ланана и полиэтилена низкой плотности были охарактеризованы с помощью X-
Рентгеновское излучение, инфракрасное излучение и двойное преломление.
Результаты расчета двойного фактора ориентации Германа, полученные с помощью различных методик, сравниваются и обсуждаются.
Также сравнивается с методами Киссина и Кришнасвами, упомянутыми выше.
Первая статья посвящена случаю с [полиэтиленом высокой плотности]19]
Во второй статье рассматривается случай с компанией Llannan.
В ходе эксперимента по выдуванию пленки показатель плавления полиэтилена низкой плотности (LLDPE) составил 1.
Было использовано значение 0 и плотность 0,918.
Пленки были изготовлены с использованием экструзионной линии компании Brampton Engineering.
Диапазон распределения температуры при экструзии составляет 160-200 °C.
2 коэффициента протяжки вниз (DDR для 23 и 12)
Использовался коэффициент взрыва толщиной около 25 [2]мкм.
Высота линии промерзания составляет около 70 см.
Диаметр формы составляет 10 см, а зазор между используемыми формами — 1,1 мм.
Для образца на растяжение использовали исходный лист того же льянна, что и выше (толщиной от 0,5 до 1 мм).
Пленка была получена методом экструзии с растяжением в потоке.
Растяжка проводилась на двусторонней растяжке в лаборатории Брюркнера.
Условия следующие: коэффициент растяжения 10% [s. sup. -1]
Начальный размер выборки 10x10 [режим одновременной деформации см. суп. 2]
Температура растяжения 120 °C.
Итоговое значение коэффициента растяжения следующее: коэффициент растяжения при одностороннем растяжении в 4 раза (
Образцы, которые не закреплены горизонтально [TD])
Потяните вниз до размера 4x1 в режиме постоянной ширины (
Образцы, зафиксированные с помощью TD)
И растянуть для рисования в обоих направлениях в соотношении 4x4.
Таким образом, ожидается, что степень ориентации в TD будет увеличиваться от образца к образцу, который растягивается в одном направлении, при условии, что исходная пленка растянута вертикально.
В случае образца для испытаний на растяжение в одном направлении, измерительная часть пленки разрезается по центру.
Сканирующая электронная микроскопия с полевой эмиссией (FE-SEM, Hitachi S-4700)
Минимальное покрытие пленкой и поверхностью.
Глобальный двунаправленный фактор ориентации был определен с использованием двулучепреломления.
В «Машине» абсолютное значение преломления
Нормальный и боковой
Нормальный самолет — это не просто случайность.
Сборка с двумя лучами и диодной матрицей по длине волны, с...
Программное обеспечение, разработанное компанией House.
Подробности об этой технологии можно найти в других источниках [21, 22].
Двусторонний направляющий фактор, используемый в данном исследовании, — это направляющий фактор Хеманса: [f. sub. jM], [f. sub. jT] и [f. sub. jN].
В данной машине горизонтальное и нормальное направления вала j равны...
Можно установить взаимосвязь между этими факторами ориентации и другими измеримыми величинами, такими как двойное преломление.
Предположим, что пороговое значение полиэтилена равно [DELTA][градусы] = [n. sub. c] - ([n. sub. a] + [n. sub. b])/2 (приблизительно 0,058) и [delta][градусы] = [n. sub. a] - [n. sub. b] (приблизительно -0,003), где [n. sub. a], [n. sub. b] и [n. sub. c]
Показатель преломления кристалла вдоль осей a, B и c позволяет получить следующее уравнение [кристаллической фазы]6]: ([DELTA][n. sub. MN])[. sub. C]= 2[DELTA][degrees]([f. sub. cM]-[f. sub. cN])/3 + [delta][degrees]([f. sub. aM]-[f. sub. aN]-[f. sub. bM]+[f. sub. bN])/3 (1)([DELTA][n. sub. TN])[. sub. C]= 2[DELTA][degrees]([f. sub. cT]-[f. sub. cN])/3 + [delta][degrees]([f. sub. aT]-[f. sub. aN]-[f. sub. bT]+[f. sub. bN])/3. (2)
Полное преломление обусловлено кристаллом и деформированным шаром в дополнение к формальному преломлению.
Незначительно). Если [фи]
Мы можем записать это так: [DELTA][n. sub. MN] = [phi]x([DELTA][n. sub. MN])[. sub. C] + (1 - [phi])x([DELTA][n. sub. MN])[. sub. A] + [DELTA][n. sub. form]. (3)
Индексы A и C обозначают аморфную и кристаллическую фазы.
Затем, используя описанный выше метод, можно определить показатель преломления кристаллической фазы по ориентации кристаллической оси и показателю преломления аморфной фазы, вычитая вклад кристалла из общего показателя преломления.
Указанное уравнение
В целом, вклад ориентаций осей и B в поляризацию кристалла ниже, чем вклад оси c, из-за присущей им разницы в поляризации, которая здесь считается пренебрежимо малой.
В результате получим следующие упрощенные уравнения: ([DELTA][n. sub. MN])[. sub. C]= 2[DELTA][degrees](2[f. sub. cM]+[f. sub. cT])/3. (4)
По ширине определяется фактор ориентации кристаллической оси — угол X.
Диаграмма полюсов дифракции лучей (110) и (200)
Отражение с коррекцией фона и поглощения, если не указано иное, хотя (020)
Также измеряется отражение. 19].
Используемое устройство — Bruker axs x-
Экспонометр угла освещенности с прибором Hi-STARtwo-
Детектор размеров и площадей.
Генератор настроен на напряжение 40 кВ и ток 40 мА, излучение меди [K. sub. [alpha]] ([lambda]= 1,542[Angstrom]).
Выбор производится с помощью монохромного измерителя с графитовым кристаллом.
Детектор Sampleto установлен на расстоянии 8 см.
Для достижения достаточной точности в разумные сроки образцы пленки укладываются слоями толщиной около 3 мм.
Помимо фактора ориентации некристаллической фазы, фактор ориентации кристалла был определен с использованием инфракрасного спектра, полученного с помощью технологии наклонной пленки, для определения направления нормального спектра (толщины пленки).
Измерения проводились на инфракрасном приборе Nicolet 17sx с разрешением 2 см⁻¹.
Всего было выполнено 128 сканирований.
Поляризация пучка с использованием зеркала смещения на основе сетки из селен-цинковой проволоки от Spectrum-Tech.
Подробности об этом подходе были опубликованы [6, 19, 20].
Судя по результатам многократных измерений и выборок, полученных с помощью описанных выше экспериментальных методов и расчетов, точность оценки значений направляющего фактора, представленных здесь, составляет около 0,05.
В результате, представленная здесь таблица показывает типичное поведение некоторых фильмов. Для простоты и наглядности не все фильмы отображаются в систематическом порядке.
Эти вопросы также не обсуждаются в данном разделе, а будут рассмотрены в следующем разделе после различных расчетов, представленных в таблице. Типичный X-
Результаты диаграммы полюсов луча: (110), (200) и (020)
Отражение показано на рисунке 1.
Это 1 фунт выдувной пленки и 1 фунт двухсторонней стретч-пленки соответственно.
Для инфракрасных спектров типичные результаты, полученные в интересующих спектральных областях во всех направлениях (
Машинная МД, поперечная ТД и нормальная НД)
Как показано на рисунке.
2. Результат программы декомпозиции.
Типичная морфология пленки, полученная с помощью сканирующего электронного микроскопа, показана на рисунке.
Для выдувания пленки и стретч-пленки.
Очевидно, что для выдувной пленки не получается структура расположения ядер, напоминающая слой пластины.
Вместо этого, как показано на рисунке.
На рисунках 3a и 3b были получены листовые и/или сферические структуры со случайной ориентацией.
Подробные количественные результаты для различных факторов ориентации были получены на основе соответствующих полярных карт, инфракрасной спектроскопии и измеренного показателя преломления всех пленок.
В таблице 1 приведены сводные результаты.
Что касается выдувной и стретч-пленки, то этот вопрос будет подробно рассмотрен ниже.
Давайте сначала сравним ориентацию кристаллической оси, определенную по инфракрасному спектру (
Используйте 730 и 719 [см. суп. -1]
Для кристаллографических осей a и B соответственно) и X-
Диаграмма полюсов лучей для двух пленок, полученных методом выдувания, с использованием двух разных значений DDS 12 и 23 при толщине 50 и 25 [микро]
M указан в таблице 1.
Результаты отличались стабильным качеством, но наблюдались существенные различия в количестве.
Фактически, для кристаллов-
Значение фактора ориентации оси в МД, полученное с помощью этих двух технологий, подтверждает, что она направлена ​​вдоль направления МД двух пленок, а значение в инфракрасном спектре выше, особенно от 730 [1 [см. sup. -1] колебаний.
[Чтение и Stan10]
Эта разница между 730 [была зафиксирована] см. суп. -1] и X-
Давным-давно были получены результаты измерений лучей при низкоуровневой ориентации односторонне растянутой пленки.
Они объясняют это потенциальным совпадением с 720 [см. суп. -1]
Возможная неопределенность X-
Результаты анализа пленки с помощью луча.
Мы согласны с первым аргументом, как показано на рисунке.
2. Вполне возможно перекрытие с потенциалом полосы аморфной фазы, особенно если пик не сильный, а также возможно насыщение толстой пленки.
Как обсуждалось в другом месте19]
(Для спектра МД)
Возможно, это относится к спектру МД пленки толщиной 50 мкм.
Второй аргумент относительно X
Результаты измерений на пленке являются точными, и, поскольку наши результаты получены на многослойных пленках общей толщиной около 3 мм, мы считаем, что эта погрешность невелика.
Мы считаем, что аргумент о пиковой насыщенности не очень важен для пленок Llannan.
Различия в ориентации ИК- и рентгеновского излучения по сравнению с полиэтиленом высокой плотности.
Значение Рэя приблизительно равно 0.
50 [3] или более микро]м пленок)
Однако еще один аргумент о потенциальном перекрытии пиков справедлив для всех фильмов.
Еще одно отличие от пленки из полиэтилена высокой плотности заключается в содержании кристаллов, которое почти вдвое выше, чем у линланана.
Это может повлиять на пиковое насыщение в инфракрасном спектре.
Рисунок 1 слегка][
Рисунок 2:
Фактор ориентации TD для-
Вал, из-за теа-
Ось слабее, чем MD, и значение обычно ниже, чем от X-
Хотя инфракрасный спектр по-прежнему завышает направление, сам свет не имеет значения.
Вероятнее всего, это связано с перекрытием этого пика с некристаллическим пиком, частично с осью B-пика. Для b-
Ось, представляющая TD — значение, полученное для фактора ориентации.
В плоскости ND всех пленок наблюдается более случайное распределение в направлении TD.
Что касается фактора ориентации MD, то ИК-спектр снова переоценивается при X-
Результаты луча, но не по оси.
Инфракрасный спектр и X-
При одинаковой толщине обеих пленок значения параметров лучей схожи, что указывает на вероятное отсутствие насыщения при измерении.
Инфракрасный спектр и X-
Хотя результаты анализа лучей незначительны, они могут быть обусловлены деформацией и/или пиками вдоль оси.
В таблице 2 представлены результаты различных поправок или вычислений для X-
Результаты рентгеновского исследования 25 [микро]
Фильм M и использование 1464-1471 [см. суп. -1]
Спектральная полоса оси B и оси. Для X-
Результаты анализа лучей позволяют четко увидеть коррекцию фона.
Результаты по осям влияют на результаты как по оси a, так и по оси B.
Для оси B она идет непосредственно от (020)
Отражение или из комбинации (200) и (110)
Размышление действительно приводит к различным результатам.
Из-за слабой силы (020)
Чем (110)отражение (
Также показано в случае [полиэтилена высокой плотности]19])
Считается, что вычисленное значение оси B получено из (200) и (110)
Отражение более последовательное и точное [19].
Результаты анализа инфракрасного спектра в диапазоне от 1464 до 1471 см⁻¹
Интересно, что полученные результаты относятся к спектральному диапазону 719-730 см⁻¹.
Это, безусловно, связано с насыщением колебаний в этом спектральном диапазоне.
Фактически, интенсивность этих полос составляет примерно 719-730 см⁻¹.
Область большинства исследованных нами образцов полиэтилена.
Рисунок 3 немного]
В таблице 3 представлены результаты определения глобальной и аморфной фазовой ориентации выдувной пленки.
Глобальная ориентация определяется показателем преломления и сочетается с инфракрасным спектром и X-...
Технология лучей и содержание кристаллов используются для расчета ориентации аморфной фазы и сравнения результатов с результатами, полученными из различных инфракрасных полос, связанных с аморфной фазой [1]10, 11].
ИК-спектр 722 см⁻¹]
Связано с колебательным режимом CH2 аморфной транс-последовательности из 4 или более последовательностей, 1303 [см. суп. -1] до C[H. суб. 2]
Изменение формы конформации GTG, асимметричное относительно центра поперечной связи, аналогично изменению формы 1303, но симметричное относительно центра поперечной связи.
Прежде всего, отметим, что все определенные значения ориентации аморфной фазы выдувной пленки малы (
Как правило, менее 0,1).
Результаты инфракрасного спектра 25 [мкм]
m трех полос (
722, 1303 и 1368)
Показано, что результаты для аморфных материалов примерно такие же, как сообщалось Ридандом Штайном [10].
Эти результаты также сопоставимы (
Погрешность эксперимента находится в пределах 0,05.
С помощью методов, основанных на показателе преломления и инфракрасном или рентгеновском излучении.
Свет определяет фактор ориентации кристалла.
Все они демонстрируют одинаковую тенденцию к незначительной ориентации на станке.
Горизонтальная плоскость аморфного сегмента аналогична общей ориентации цепи ланнана.
Результаты для пленок с односторонней и двусторонней ориентацией при различных значениях факторов кристаллической ориентации приведены в таблице 4.
При нормальных обстоятельствах (020)
Как показано на рисунке, интенсивность отражения очень слабая. 1b. X-
Используйте эти две процедуры для определения результатов лучей этих растянутых пленок: (1) ось a от (200), ось b от (020) и c-
С двух осей; или (2) ось а из (200), б-
Комбинация колесной базы (110), и (200) и c-
С двух осей.
В таблице можно заметить некоторые различия между двумя результатами, но они меньше, чем у вышеупомянутой выдувной пленки и пленки из полиэтилена высокой плотности [19].
В дополнение к вышеприведенному наблюдению о большей точности результатов оси, из (200) и (110)
Отражение, если человек смотрит на полярное изображение на картинке 1b (020)
При рассмотрении отражения можно заметить, что оно в основном локализовано в направлении TD, и присутствует некоторое, но существенное присутствие в направлении ND.
(Небольшая серая линия посередине)
На вычисленной оси B, из (200) и (110)
Вместо того чтобы напрямую из (020).
В остальной части этой статьи используются только данные из (200) и (110).
С точки зрения ориентации кристаллической оси, кристалл-
Осевая ориентация в основном соответствует TD-
Плоскость ND односторонней и двусторонней ориентации пленки. b-
Ось в TD-
В обоих случаях присутствуют нейтральные полосы пропускания.
Что касается оси c, оба метода показывают, что она расположена в направлении MD однонаправленной пленки, что и ожидалось.
При двунаправленной ориентации ось c ориентирована преимущественно в направлении MD, TD и ND.
Для образцов с таким изоаксиальным растяжением можно было бы ожидать c-
Ось в MD и TD.
Это различие можно объяснить наличием исходной неизосексуальной пленки, не подверженной растяжению, что также будет обсуждаться в связи с результатами преломления. Сравнивая X-
Луч определил функцию ориентации с помощью данных инфракрасного спектра и снова обнаружил, что ориентация оси в МД, определенная методом ИК-спектроскопии с преобразованием Фурье, была переоценена, но наблюдалась чаще, чем в пленке из выдувного полиэтилена и пленке из полиэтилена высокой плотности. 19].
Следует также отметить, что инфракрасный спектр недооценивает ориентацию по оси B, например, вычисление положительной ориентации MD и отрицательной ориентации ND по инфракрасному спектру является неверным, исходя из оси X.
Схема громоотводов
Для пленки с односторонней ориентацией спектр пропускания в инфракрасном диапазоне насыщается из-за ее большой толщины, поэтому сбор данных в инфракрасном диапазоне невозможен.
Аморфная ориентация, общий показатель преломления и соответствующая глобальная ориентация, а также результаты расчета аморфной ориентации, измеренные методом инфракрасной спектроскопии (
Начиная с X-, комбинируя ориентацию кристаллической оси с ориентацией кристаллической оси (например, методом ИК-спектроскопии с преобразованием Фурье).
Как показано в таблице 5.
Предварительные наблюдения методом двойного преломления показывают, что исходная пленка не принадлежит к одному и тому же полу.
Фактически, стретч-пленка демонстрирует двустороннюю структуру (ненулевое значение [DELTA][n. sub. MT]).
Образцы для двустороннего растяжения)
Различные значения от [DELTA][n. sub. MN] и [DELTA][n. sub. MT]
Для односторонней растяжки.
Результаты получены из инфракрасного спектра 722 [для некристаллической фазы] см⁻¹.
Вибрация сравнима с сочетанием двойного преломления и X-
Были отмечены некоторые различия в направлениях TD, результатах Ray, особенно в отношении MDorientation.
Результаты расчета ориентации кристаллической оси, определенной по спектрам преломления и инфракрасному спектру, существенно отличаются от результатов, полученных двумя другими методами. Кроме того, подтверждено, что инфракрасный спектр завышает ориентацию кристаллической оси, особенно оси.
Наконец, как упоминалось во введении, в литературе предложена упрощенная процедура ИК-спектроскопии полиэтиленовой пленки с рядовой структурой [s] без использования технологии наклона17, 18].
Подходит для линейного полиэтилена низкой плотности (ЛПНП)[18].
Подробности программы можно найти в ссылках 17 и 18.
Мы показали это в наших предыдущих исследованиях. 19]
Этот метод эффективен для получения сплошной пленки из полиэтилена высокой плотности (HDPE).
Ядерная форма.
Наша цель здесь — оценить эффективность этого метода для пленок с изображением луномии.
Как всем известно, пленки из LLDPE в большинстве случаев имеют структуру случайных слоев пластин, как показано на рисунке.
3a и 3b и другие исследования12, 18, 20].
Упрощенная процедура сравнивается с полным инфракрасным методом, использующим технологию наклона.
Как площадь под пиком, так и амплитуда колебаний используются для расчета инфракрасного спектра и связаны с X-
Результаты рентгеновской дифракции для определения ориентации кристаллической оси.
В таблице 6 представлены результаты испытаний выдувной пленки с показателем DDR, равным 12.
Результаты, полученные с помощью инфракрасного спектра, сильно отличаются от результатов, полученных с помощью рентгеновского излучения.
Как уже обсуждалось выше, имеет место дифракция лучей и переоценка фактора ориентации.
Что касается результатов инфракрасной спектроскопии, то отчетливо видно, что две программы FTIR дают значительно различающиеся результаты, а упрощенный метод дает необоснованные значения, особенно для направления оси c, что хорошо известно из многочисленных исследований пленок, полученных методом выдувания из llldpe [незначительные]12, 18, 20].
В пределах погрешности эксперимента расчеты с использованием области колебаний или амплитуды аналогичны.
Этот результат, а также результаты, полученные ранее на HDPE [19]
Особое внимание уделяется предложенному упрощенному методу.
Ядерная структура существует и строго соответствует предположениям метода.
Кроме того, следует понимать, что результат отличается от рентгеновской дифракции.
В заключение, при определении двусторонних факторов ориентации ldpes с использованием различных методов следует проявлять осторожность при их интерпретации.
Возможно, инфракрасный спектр переоценен.
Направление оси;
Разбор различных видов пожертвований может быть сложным.
В результатах инфракрасной спектроскопии определение ориентации фиолетового кристаллического шара может быть существенно искажено перекрытием пиков. Пленки, полученные методом выдувания (
Низкое направление)
Эти различия оказывают большее влияние, чем растягивающая пленка (
Обладает высоким уровнем ориентации). СПИСОК ЛИТЕРАТУРЫ 1. Т.Х. Ю и Г.Л.
1. Polymer, 37,4675 (Wilks)1996). 2. MA McRae и WF Maddams, J. Appl. Polym. Sci. , 22, 2761(1978). 3. KJ Choi, JE
Спруиэлл, Дж. Л. Уайт, J. Polym. Sci. Polym. Phys. Ed., 20, 27 (1982). 4. Х. Канецуна, J. ​​Appl. Polym. Sci., 22, 2707 (1978). 5. Р. Г. Мэтьюз, Р. А. Дакетт, И. М. Уорд и Д. П.
Полимер, 38, 4795 (Джонс)1997). 6. К. К. Коул и А.
Аджи, «представление полимеров в твердотельной обработке», И.М. Уорд, П.Д. Коутс и М.М.
Редактор, Карл Хантер Фраги, Мюнхен, Глава 3, Глава 33 (2000). 7. Р. С. Штайн и Ф. Х. Норрис, J. Polym. Sci., 21, 381 (1956). 8. Р. С. Штайн, J. Polym. Sci., 31, 327 (1958). 9. Р. С. Штайн, J. Polym. Sci., 31, 335 (1958). 10. Б. Э. Рид и Р. С.
Крупная молекула, 1,116 (1968). 11. CR Desper, J. Appl. Polym. Sci. , 13, 169 (1969). 12. XM Zhang, JM
Виллидж и.
Аджи, полимер, 8179 (2001). 13. ПХ
Линденмайер и С. Люстиг, J. Appl. Polym. Sci., 9, 227 (1965). 14. К. Р. Деспер и Р. С. Штайн, J. Appl. Phys., 37, 3990 (1966). 15. Б. Э. Рид и Д. А.
Хьюз, полимер, 495 (1972). 16. В.Ф. Маддамс и Дж.Е. Прееди, J. Appl. Polym. Sci., 22, 2721 (1978). 17. Ю.В. Киссин, J. Polym. Sci. Part B: Polym. Phys., 30, 1165 (1992). 18. Р.К.
Кришнасвами, Дж. Полим. Наука. Часть B: Полим. Физика, 38, 182 (2000). 19. А. Аджи, С. Чжан и С.
Полимер, 46,3838 (2005). 20. X. Чжан, S. Элкун, A. Аджи и MA
Полимер, 45217 (2004). 21. А. Аджи, Ж. Гевремонт, Р.Г.
Мэтьюз и ММ
Дю Мулен, до 1998 г. Proc, 44, 1588 (1998). 22. А. Аджи и Ж. Гевремонт, США
Патент 5864403 (1999 г.). А. Аджи, С. Чжан, С.
Институт промышленных материалов им. Элкоуна, Норвежский совет по делам беженцев, бульвар 75.
De Mortagne Communications, Бошервиль, Квебек, Канада:. Аджи; Электронная почта: Абделла. ajji@cnrc-nrc. гк.